主动器件检测设备

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  有机物综合测试仪

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  能量色散X荧光光谱仪

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  恒温恒湿试验THT

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  高温反偏HTRB

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  精密老化试验HTST

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  HAST实验

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  回流焊IR

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  高低温循环TCT

从一颗芯片到一颗电阻，合科泰构建了贯穿产品生命周期的可靠性验证体系，为客户的每一次关键应用保驾护航。我们配备了覆盖材料成分、环境可靠性与内部结构分析的完整检测体系。有机物综合测试仪（LC‑2800G PLUS） 与 能量色散X荧光光谱仪（JXF‑8000） 可精准筛查RoHS 2.0等限用物质。高温反偏（HTRB） 等试验直接对标AEC‑Q101车规半导体器件标准，模拟极端温湿环境，评估器件长期可靠性。同时，X‑RAY 与 SAT超声波扫描 提供无损内部成像，确保芯片键合与封装工艺无缺陷。这套体系为合科泰MOSFET、二极管等功率器件在工业与汽车电子应用中的稳定表现提供了坚实的数据支撑。

可靠性测试设备

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  TCT

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  化学开封实验柜

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  HTST&PCT

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  回流焊

公司设有专门的环境测试实验室，且有独立的试验设备以及专业的技术人才，能够高压蒸煮、高低温循环、化学开封、回流焊等方面的测试试验，产品经过严格的测试，全方位的保证产品质量。

实验室分析设备

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  高倍测量显微镜

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  推拉力测试机

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  投影仪

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  KSI高分辨声学显微系统

公司设有专门的产品外观分析实验室，且有独立的试验设备以及专业的技术人才，能够线弧&球径&球厚检测外观检测、声波分层扫描检测外观检测、推拉力测试机、投影仪尺寸测量等方面的测试试验，产品经过严格的测试，全方位的保证产品质量。